Servicio de caracterización de superficies y recubrimientos

INTRODUCCIÓN

El servicio de Caracterización de Superficies y Recubrimientos consta de tres equipos: un microscopio confocal e interferómetro, un nanoindentador y un microscopio de sonda local.

Mediante estas técnicas se pueden realizar análisis superficiales de topografía, en un rango que va desde los milímetros a los nanómetros; así como estudios superficiales de dureza y otras propiedades eléctricas, magnéticas y ópticas. 

EQUIPAMIENTO

  1. Microscopio confocal e interferómetro Sensolar PL 2300, dispone de objetivos de 10, 20, 50 y 100 aumentos que se emplean para superficies lisas y rugosas.
  2. Microscopio de sonda de barrido Ntegra Aura NT-MDT, permite realizar medidas de AFM (atomic force microscopy), MFM (magnetic force microscopy) con posibilidad de aplicación de campo tanto en el plano paralelo como perpendicular a la muestra, EFM (electrostatic force microscopy), KPM (Kelvin probe microscipy), STM (scanning tunneling microscopy), nanolitografía y SNOM (scanning near field optical microscopy).
  3. Nanoindentador Agilent G200, consta de los siguientes métodos: indentación simple, CSM (continuous stiffness measurement), scratch, LFM (lateral force measurement) y alta carga.

APLICACIONES

  • Topografías superficiales y obtención de imágenes en 2D y 3D.
  • Análisis de perfiles.
  • Análisis de rugosidad.
  • Visualización de variaciones de composición, adhesión, fricción.
  • Aplicación de campos y visualización de dominios magnéticos.
  • Análisis de conductividad y resistividad eléctrica y visualización de distribuciones de potenciales eléctricos.
  • Nanolitografía.
  • Estudio de propiedades ópticas a escala nanométrica.
  • Obtención de propiedades mecánicas de materiales: módulo de Young y dureza.

SECTORES DE INTERÉS

Industrias de recubrimientos, pinturas, esmaltes, cerámicas, etc.

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